< home

ART-TEST NEWS
< elenco completo

28 gen - 2007
Presentazione a Electronic Imaging 2007, San Josè - USA

Durante il congresso internazionale “Electronic Imaging” tenutosi a San Josè, California, USA dal 28 Gennaio al 1 Febbraio, Art-Test è stata invitata a presentare l’articolo “Active and passive sensors for art works analysis and investigations”, nella sessione “Videometrics”.

http://electronicimaging.org/program/07/conferences/
index.cfm?fuseaction=6491

Alta tecnologia per lo studio e la conservazione delle opere d’arte
Riflettografia IR a CCD e a Scansione
Acquisizioni multispettrali ad immagine
nel visibile, nell'UV e nell'IR
Termografia (certificata 2 livello)
Acquisizione e modellazione 3D
Radiografia digitale
Fluorescenza a Raggi X
Spettroscopia microRaman, LIBS e FTIR
Colorimetria puntuale
Analisi chimiche microinvasive
Microscopia ottica (multispettrale e fotografica)
ed elettronica (SEM)
Tecniche di datazione
(Termoluminescenza, C14, Dendrocronologia)
Presentazione dati accurata e efficace
INFO
 Contatti / Dove siamo
 Download
 FAQ
 Rassegna stampa
Art-Test s.a.s. Via del Martello 14, 56121, Pisa
P.I. 01766860504
Visitate la nostra pagina FaceBook
Art-Test un marchio depositato da Art-Test di Luciano Marras e C. s.a.s.